Повышение производительности метода экспоненциальной аппроксимации для обнаружения наночастиц на изображениях с электронного микроскопа / Сулимова В. В., Курбаков М. Ю., Середин О. С., Копылов А. В. // Изв. Тул. гос. ун-та. Техн. н.— 2022 № 10.— С. 305-311.— русский; рез. английский