Белехов Я. С. Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа: Автореф. дис. на соиск. уч. степ. канд. техн. наук.— Федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт прецизионного приборостроения", Москва, 2007. русский.— 29 с.: ил. Библ.: 2