Авторефераты и диссертации

Белехов Я. С. Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа: Автореф. дис. на соиск. уч. степ. канд. техн. наук .— Федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт прецизионного приборостроения", Москва, 2007.— 29 с. Библ.: 2: ил. — русский

Автор:   - Персоналия ( 1 )   Место защиты:   - Организация ( 1 )   Место выполнения:   - Организация ( 1 )

Постоянная ссылка (СИД) B07476216 Ученая степень канд. техн. наук Шифр специальности ВАК 05.11.07 Год 2007 Язык текста русский Место защиты диссертации Федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт прецизионного приборостроения" Город защиты диссертации Москва Библиография (кол-во источников) Библ.: 2 Страницы/Объём 29 с. Иллюстрации, карты ил. Страна Российская Федерация Дата регистрации в ВИНИТИ 26.12.2007 Язык описания русский Обозн. материала носителя текст в печатном издании Канал поступления Бесплатно Место хранения ЦНИО