Патенты
   
Способ исследования деформации и напряжений в хрупких тензоиндикаторах / Махутов Н. А., Пермяков В. Н., Александров П. А., Иванов В. И., Новоселов В. В., Васильев И. Е., Спасибов В. М. / ТюмГНГУ. — Пат № 2505780 Российская Федерация, МПК G01B 5/30 (2006.01), G01N 29/14 (2006.01). — № 2012130488/28; Заявл. 17.07.2012; Опубл. 27.01.2014 — русский
 
Автор: 
 - Персоналии ( 7 )
Постоянная ссылка (СИД) T12879474
Название Способ исследования деформации и напряжений в хрупких тензоиндикаторах
Автор Махутов Н. А.
Автор Пермяков В. Н.
Автор Александров П. А.
Автор Иванов В. И.
Автор Новоселов В. В.
Автор Васильев И. Е.
Автор Спасибов В. М.
Заявитель/ патентообладатель ТюмГНГУ
Номер патентного документа 2505780
Год 2014
Регистрационный номер заявки 2012130488/28
Дата публикации патентного документа 27.01.2014
Шифр МПК G01B 5/30 (2006.01), G01N 29/14 (2006.01)
Страна Российская Федерация
Язык текста русский
Дата подачи заявки на изобретение 17.07.2012
Обозн. материала носителя электронное издание online
Дата регистрации в ВИНИТИ 18.09.2014
Канал поступления Патенты из ЦСБД (ПИК)
Место хранения Патенты из ЦСБД (ПИК)
Адрес полного текста
Тематический раздел Механика
Издательский номер в РЖ 15.02-16Д.472
Шифр ГРНТИ 30.19.57
Ключевые слова дефектоскопия, разрушение, измерений методы, тензоиндикаторы хрупкие, патенты