Статьи за последние 2 года |
 Анализ изотопов водорода на поверхности вольфрама с помощью спектроскопии малоуглового ионного рассеяния / Синельников Д. Н., Гаспарян Ю. М., Гришаев М. В., Ефимов Н. Е., Крат С. А., Никитин И. А. // Материалы 3 Международной конференции "Проблемы термоядерной энергетики и плазменные технологии", Таруса, 16-21 окт., 2023.— 2023.— C. 100-101.— русский |
|
|
| Постоянная ссылка (СИД2) |
B21786863506 |
| Название |
Анализ изотопов водорода на поверхности вольфрама с помощью спектроскопии малоуглового ионного рассеяния |
| Автор |
Синельников Д. Н. |
| Автор |
Гаспарян Ю. М. |
| Автор |
Гришаев М. В. |
| Автор |
Ефимов Н. Е. |
| Автор |
Крат С. А. |
| Автор |
Никитин И. А. |
| Источник |
Материалы 3 Международной конференции "Проблемы термоядерной энергетики и плазменные технологии", Таруса, 16-21 окт., 2023 |
| Страницы/Объём |
100-101 |
| Год |
2023 |
| Постоянная ссылка (СИД) |
B21786863 |
| Дата регистрации в ВИНИТИ |
07.12.2023 |
| Место хранения |
ЦНИО |
| Язык текста |
русский |
| Адрес полного текста |
|
| Тематический раздел |
Физика |
| Издательский номер в РЖ |
24.06-18Г.208 |
| Шифр ГРНТИ |
29.27.35 |
| Шифр ГРНТИ |
29.27.43 |
| Ключевые слова |
взаимодействие плазмы с поверхностями, компоненты, обращенные к плазме, пыль; первая стенка, камера; взаимодействие тяжелых частиц с поверхностями; катодное распыление |
|