| Постоянная ссылка (СИД2) |
J2121808841 |
| Название |
ИЗМЕРЕНИЕ МАЛЫХ ПОТЕРЬ НА ПОЛЯРИЗАЦИЮ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО МАТЕРИАЛА В ГОТОВЫХ ДИОДАХ |
| Автор |
Семенов Э. В. |
| Автор |
Малаховский О. Ю. |
| Источник |
Приборы и техника эксперимента |
| Страницы/Объём |
122-128 |
| Сокращ. назв. источника |
Приборы и техн. эксперим. |
| Год |
2023 |
| Номер |
2 |
| Адрес в Интернет |
http://elibrary.ru/item.asp?id=50501899 |
| Постоянная ссылка (СИД) |
J21218088 |
| Место хранения |
Удаленный доступ. Эл. регистр. НЭБ |
| Дата регистрации в ВИНИТИ |
17.04.2023 |
| Язык текста |
русский |
| Аннотация |
Рассмотрен способ измерения потерь на поляризацию полупроводникового материала в области пространственного заряда готового диода. Показано, что измерение может быть выполнено методом сравнения с мерой емкостной добротности при помощи измерителей импеданса общего применения в лабораториях без стабилизации микроклимата и экранирования электромагнитных полей. Для исключения дрейфовой погрешности в этих условиях предлагается многократное регулярное переключение объекта измерения и меры. В результате тангенс угла потерь на поляризацию величиной 1.9 · 10-4 удалось измерить с погрешностью ±16% |
| Тематический раздел |
Автоматика и радиоэлектроника |
| Издательский номер в РЖ |
23.12-23АБ.31 |
| Шифр ГРНТИ |
47.33.29 |
| Ключевые слова |
полупроводниковые диоды, полупроводники, поляризация, области пространственного заряда, измерения |