| Постоянная ссылка (СИД2) |
B211177911243 |
| Название |
Время потери работоспособности сложнофункциональных СБИС при воздействии импульсного ионизирующего излучения |
| Автор |
Петров А. Г. |
| Автор |
Сорокоумов Г. С. |
| Автор |
Бобровский Д. В. |
| Источник |
Российский форум "Микроэлектроника 2022": 8 Научная конференция "Электронная компонентная база и микроэлектронные модули", Роза Хутор, 2-8 окт., 2022: Сборник тезисов |
| Страницы/Объём |
299-301 |
| Год |
2022 |
| Постоянная ссылка (СИД) |
B21117791 |
| Место хранения |
Удаленный доступ (ИКТ) |
| Дата регистрации в ВИНИТИ |
14.03.2023 |
| Язык текста |
русский |
| Аннотация |
Воздействие импульсного ионизирующего излучения может вызывать различные сбои и временную потерю работоспособности микросхем. В статье описаны примеры нарушения работоспособности и методические рекомендации по определению времени потери работоспособности при воздействии импульсного ионизирующего излучения для сложнофункциональных СБИС, таких как микропроцессоры, ПЛИС, АПЦ/ЦАП, память и др. |
| Адрес полного текста |
 |
| Тематический раздел |
Автоматика и радиоэлектроника |
| Издательский номер в РЖ |
24.06-23АБ.66 |
| Шифр ГРНТИ |
47.33.31 |
| Ключевые слова |
СБИС, сложнофункциональные СБИС, импульсное ионизирующее излучение и, различные сбои, временная потеря работоспособности |
|