Проверка маршрута для электронных ИКТ. / ред. Батюшко А. А. — Москва: Всероссийский институт научной и технической информации РАН, 2017 — 100 с. — русский, немецкий, французский, японский рез. венгерский, румынский. Конференция; Российская Федерация; |