| Постоянная ссылка (СИД) |
T15527463 |
| Название |
Способ определения стойкости полупроводниковых приборов СВЧ к воздействию ионизирующих излучений |
| Автор |
Усыченко В. Г. |
| Автор |
Вьюгинов В. Н. |
| Автор |
Гудков А. Г. |
| Автор |
Добров В. А. |
| Автор |
Кудряшова Т. Ю. |
| Автор |
Мешков С. А. |
| Автор |
Мещеряков А. В. |
| Автор |
Маржановский И. Н. |
| Заявитель/ патентообладатель |
МГТУ |
| Номер патентного документа |
2602416 |
| Год |
2016 |
| Регистрационный номер заявки |
2015133038/28 |
| Дата публикации патентного документа |
20.11.2016 |
| Шифр МПК |
G01R 31/28 (2006.01) |
| Страна |
Российская Федерация |
| Язык текста |
русский |
| Дата подачи заявки на изобретение |
07.08.2015 |
| Обозн. материала носителя |
электронное издание online |
| Дата регистрации в ВИНИТИ |
13.03.2017 |
| Канал поступления |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
| Место хранения |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
| Адрес полного текста |
 |
| Тематический раздел |
Автоматика и радиоэлектроника |