| Постоянная ссылка (СИД) |
T17551825 |
| Название |
Способ автоматического определения параметров оптико-электронных систем и составной тест-объект для его осуществления с произвольной конфигурацией составных элементов с единой пространственной частотой |
| Автор |
Васин С. А. |
| Автор |
Набоков С. А. |
| Заявитель/ патентообладатель |
ГосНИИАС |
| Номер патентного документа |
2673501 |
| Год |
2018 |
| Регистрационный номер заявки |
2017141018 |
| Дата публикации патентного документа |
27.11.2018 |
| Шифр МПК |
G01M 11/02 (2006.01) |
| Страна |
Российская Федерация |
| Язык текста |
русский |
| Дата подачи заявки на изобретение |
24.11.2017 |
| Обозн. материала носителя |
электронное издание online |
| Дата регистрации в ВИНИТИ |
07.02.2019 |
| Канал поступления |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
| Место хранения |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
| Адрес полного текста |
 |
| Тематический раздел |
Автоматика и радиоэлектроника |