Патенты
   
Способ определения степени разрушения кристаллической структуры образца в процессе его облучения ускоренными частицами / Шемухин А. А., Евсеев А. П., Воробьева Е. А., Балакшин Ю. В., Назаров А. В., Миннебаев Д. К., Петров В. Л., Филиппычев С. А. / МГУ. — Пат № 2792256 Российская Федерация, МПК G01T 1/202 (2006.01). — № 2021139783; Заявл. 29.12.2021; Опубл. 21.03.2023 — русский
 
Автор: 
 - Персоналии ( 8 )
Постоянная ссылка (СИД) T21238680
Название Способ определения степени разрушения кристаллической структуры образца в процессе его облучения ускоренными частицами
Автор Шемухин А. А.
Автор Евсеев А. П.
Автор Воробьева Е. А.
Автор Балакшин Ю. В.
Автор Назаров А. В.
Автор Миннебаев Д. К.
Автор Петров В. Л.
Автор Филиппычев С. А.
Заявитель/ патентообладатель МГУ
Номер патентного документа 2792256
Год 2023
Регистрационный номер заявки 2021139783
Дата публикации патентного документа 21.03.2023
Шифр МПК G01T 1/202 (2006.01)
Шифр НПК G01T 1/202 (2022.08)
Страна Российская Федерация
Язык текста русский
Дата подачи заявки на изобретение 29.12.2021
Обозн. материала носителя электронное издание online
Дата регистрации в ВИНИТИ 24.04.2023
Канал поступления Патенты из ЦСБД (ПИК)
Место хранения Патенты из ЦСБД (ПИК)
Адрес полного текста
Тематический раздел Автоматика и радиоэлектроника
Издательский номер в РЖ 23.09-32.284
Шифр ГРНТИ 81.09.81
Ключевые слова дефектоскопия, кристаллические образцы, разрушение, ускорительная техника