Постоянная ссылка (СИД) |
T17551825 |
Название |
Способ автоматического определения параметров оптико-электронных систем и составной тест-объект для его осуществления с произвольной конфигурацией составных элементов с единой пространственной частотой |
Автор |
Васин С. А. |
Автор |
Набоков С. А. |
Заявитель/ патентообладатель |
ГосНИИАС |
Номер патентного документа |
2673501 |
Год |
2018 |
Регистрационный номер заявки |
2017141018 |
Дата публикации патентного документа |
27.11.2018 |
Шифр МПК |
G01M 11/02 (2006.01) |
Страна |
Российская Федерация |
Язык текста |
русский |
Дата подачи заявки на изобретение |
24.11.2017 |
Обозн. материала носителя |
электронное издание online |
Дата регистрации в ВИНИТИ |
07.02.2019 |
Канал поступления |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
Место хранения |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
Адрес полного текста |
|
Тематический раздел |
Автоматика и радиоэлектроника |