Туннельный метод измерения нанорельефа поверхности / Александров Е. В., Домась К. И., Ивашов Е. Н., Мисюк Р. В., Пак М. М., Панов А. В. ; Московский государственный институт электроники и математики (технический университет). — Москва, 2004. — 16 с. — Библ.: 4 назв. — русский. — Деп. в ВИНИТИ РАН 13.07.2004 № 1201-В2004 |