Статьи за последние 2 года
   
Участие дефектов, локализованных на гетерограницах, и протяженных дефектов в деградации светоизлучающих приборов на основе нитридов / Тальнишних Н. А., Иванов А. Е., Шабунина Е. И., Шмидт Н. М. // Оптика и спектроскопия.— 2023 т. 131 № 11.— C. 1499-1501.— русский; рез.: английский
 
Источник: 
 - Выпуск сериального издания ( 1 )
 
Автор: 
 - Персоналии ( 4 )
Постоянная ссылка (СИД2) J21946938153
Название Участие дефектов, локализованных на гетерограницах, и протяженных дефектов в деградации светоизлучающих приборов на основе нитридов
Автор Тальнишних Н. А.
Автор Иванов А. Е.
Автор Шабунина Е. И.
Автор Шмидт Н. М.
Источник Оптика и спектроскопия
Страницы/Объём 1499-1501
Сокращ. назв. источника Оптика и спектроскопия
Год 2023
Том 131
Номер 11
Адрес в Интернет http://elibrary.ru/item.asp?id=60019306
Постоянная ссылка (СИД) J21946938
Ключевые слова (авторские) дефекты%светодиоды
Место хранения Удаленный доступ. Эл. регистр. НЭБ
Дата регистрации в ВИНИТИ 12.02.2024
Язык текста русский
Язык резюме английский
Аннотация Экспериментально исследовано снижение внешней квантовой эффективности (ВКЭ) коммерческих светодиодов на основе квантоворазмерных структур InGaN/GaN на длину волны 445, 530 и AlGaN/GaN на 280 nm в стандартном режиме старения на постоянном токе. Выяснено, что снижение ВКЭ светодиодов (не зависимо от длины волны излучения) происходит в результате кооперативных явлений, развивающихся в 1-2 квантовых ямах (КЯ), находящихся в области объемного заряда (ООЗ) p-n-перехода, а также в большей части КЯ вне ООЗ. Показано, что неоднородное протекание тока в этих областях приводит не только к трансформации дефектов, локализованных на гетерограницах в ООЗ и в латеральных неоднородностях состава твердого раствора вне ООЗ, а также в протяженных дефектах, но и к изменению состава
Тематический раздел Физика
Издательский номер в РЖ 24.04-18Л.359
Шифр ГРНТИ 29.31.29
Ключевые слова светодиоды, InGaN/GaN, квантоворазмерные структуры, внешняя квантовая эффективность