Авторефераты и диссертации
Белехов Я. С.
Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа: Автореф. дис. на соиск. уч. степ. канд. техн. наук .— Федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт прецизионного приборостроения", Москва, 2007.— 29 с. Библ.: 2: ил. — русский
Автор:
-
Персоналия ( 1 )
Место защиты:
-
Организация ( 1 )
Место выполнения:
-
Организация ( 1 )
Постоянная ссылка (СИД)
B07476216
Ученая степень
канд. техн. наук
Шифр специальности ВАК
05.11.07
Год
2007
Язык текста
русский
Место защиты диссертации
Федеральный научно-производственный центр "Научно-исследовательский институт прецизионного приборостроения"
Город защиты диссертации
Москва
Библиография (кол-во источников)
Библ.: 2
Страницы/Объём
29 с.
Иллюстрации, карты
ил.
Страна
Российская Федерация
Дата регистрации в ВИНИТИ
26.12.2007
Язык описания
русский
Обозн. материала носителя
текст в печатном издании
Канал поступления
Бесплатно
Место хранения
ЦНИО