Депонированные рукописи

Использование КТ и ЯМР томографии для анализа структурных дефектов полимерных сильфонных клапанов / Гвоздев С. С., Ткалич В. Л. ; Санкт-Петербургский государственный институт точной механики и оптики (технический университет). — Санкт-Петербург, 1998. — 5 с. — Библ.: 2 назв. — русский. — Деп. в ВИНИТИ РАН 07.10.1998 № 2954-В1998

Доступ к первоисточнику:   - Организация ( 1 )   Коллективный автор:   - Организация ( 1 )   Автор:   - Персоналии ( 2 )   Депозитарий:   - Организация ( 1 )   Рубрикация по ГРНТИ:   - Рубрика ГРНТИ ( 1 )

Постоянная ссылка (СИД) 295401982 Коллективный автор Санкт-Петербургский государственный институт точной механики и оптики (технический университет) Город депонента Санкт-Петербург Год 1998 Страницы/Объём 5 с. Библиография (кол-во источников) Библ.: 2 Язык текста русский Место депонирования ВИНИТИ РАН Центр-депозитарий Всероссийский институт научной и технической информации РАН Дата депонирования 07.10.1998 Номер депонента 2954-В1998 Страна Российская Федерация Канал поступления Канал не определен Место хранения Депонирование Язык описания русский Дата регистрации в ВИНИТИ 23.11.1998 Обозн. материала носителя текст в печатном издании Год Ук. ДепНР 1998 Номер Ук. ДепНР 12 № док-та в Ук. ДепНР 274 Шифр ГРНТИ 61