Постоянная ссылка (СИД) |
T21238680 |
Название |
Способ определения степени разрушения кристаллической структуры образца в процессе его облучения ускоренными частицами |
Автор |
Шемухин А. А. |
Автор |
Евсеев А. П. |
Автор |
Воробьева Е. А. |
Автор |
Балакшин Ю. В. |
Автор |
Назаров А. В. |
Автор |
Миннебаев Д. К. |
Автор |
Петров В. Л. |
Автор |
Филиппычев С. А. |
Заявитель/ патентообладатель |
МГУ |
Номер патентного документа |
2792256 |
Год |
2023 |
Регистрационный номер заявки |
2021139783 |
Дата публикации патентного документа |
21.03.2023 |
Шифр МПК |
G01T 1/202 (2006.01) |
Шифр НПК |
G01T 1/202 (2022.08) |
Страна |
Российская Федерация |
Язык текста |
русский |
Дата подачи заявки на изобретение |
29.12.2021 |
Обозн. материала носителя |
электронное издание online |
Дата регистрации в ВИНИТИ |
24.04.2023 |
Канал поступления |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
Место хранения |
Патенты из ЦСБД (ПИК) |
Адрес полного текста |
|
Тематический раздел |
Автоматика и радиоэлектроника |
Издательский номер в РЖ |
23.09-32.284 |
Шифр ГРНТИ |
81.09.81 |
Ключевые слова |
дефектоскопия, кристаллические образцы, разрушение, ускорительная техника |